M. Ma, N. Nango, T. Ogawa, M. Watanabe and M. Eguchi: "Study on defects in EMCZ-Si crystal by infrared scattering tomography"J. Cryst. Growth. 208. 282-288 (2000)
M. Ma, N. Nango, T. Ogawa, M. Watanabe and M. Eguchi: "Study on defects in EMCZ-Si crystal by infrared scattering tomography"J. Cryst. Growth. 208. 282-288 (2000)
复制标题
M. Ma、N. Nango、T. Okawa、M. Watanabe 和 M. Eguchi：“通过红外散射断层扫描研究 EMCZ-Si 晶体中的缺陷”J。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
