Transmission secondary ion mass spectrometry using 5MeV C60 + ions
Transmission secondary ion mass spectrometry using 5MeV C60 + ions
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使用 5MeV C60 离子的透射二次离子质谱法
DOI：
10.1063/1.4868655
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发表时间：
2014
影响因子：
4
通讯作者：
and K. Kimura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Nakajima;K. Nagano;M. Suzuki;K. Narumi;Y. Saitoh;K. Hirata;and K. Kimura
