J.Sakurai, H.Hosoda, S.Kajiwara, S.Miyazaki: "Nanoscale Microstructure Formed During Crystallization and Shape Memory Behavior in Sputter-Deposited Ti-rich Ti-Ni Thin Films"Trans. Mater. Res. Soc. Japan. 25. 801-804 (2000)
J.Sakurai, H.Hosoda, S.Kajiwara, S.Miyazaki: "Nanoscale Microstructure Formed During Crystallization and Shape Memory Behavior in Sputter-Deposited Ti-rich Ti-Ni Thin Films"Trans. Mater. Res. Soc. Japan. 25. 801-804 (2000)
复制标题
J.Sakurai、H.Hosoda、S.Kajiwara、S.Miyazaki：“溅射沉积富钛钛镍薄膜中结晶过程中形成的纳米级微观结构和形状记忆行为”Trans。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
