H.Kohno, T.Mabuchi, S.Takeda, M.Kohyama, M.Terauchi, M.Tanaka: "Detection of inactive defects in crystalline silicon by high-resolution transmission-electron energy-loss spectroscopy" Physical Review. vol.B58. 10338-10342 (1998)
H.Kohno, T.Mabuchi, S.Takeda, M.Kohyama, M.Terauchi, M.Tanaka: "Detection of inactive defects in crystalline silicon by high-resolution transmission-electron energy-loss spectroscopy" Physical Review. vol.B58. 10338-10342 (1998)
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H.Kohno、T.Mabuchi、S.Takeda、M.Kohyama、M.Terauchi、M.Tanaka：“通过高分辨率透射电子能量损失光谱检测晶体硅中的非活性缺陷”物理评论。
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