TEM-STMを用いたReRAMスイッチング現象のその場観察
TEM-STMを用いたReRAMスイッチング現象のその場観察
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使用 TEM-STM 原位观察 ReRAM 开关现象
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
有田正志
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T. Morimura;M. Hasaka;S. Kondo;H. Nakashima;H. Maeda;有田正志
