S.Nozaki: "Ambient Scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy on GaAs (100) treated with (NH_4)_2S_X and SeS_2 solutions" Journal of Vacuum Science and Technology B. (印刷中). (1994)
S.Nozaki: "Ambient Scanning tunneling microscopy and atomic force microscopy on GaAs (100) treated with (NH_4)_2S_X and SeS_2 solutions" Journal of Vacuum Science and Technology B. (印刷中). (1994)
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S.Nozaki：“用 (NH_4)_2S_X 和 SeS_2 溶液处理的 GaAs (100) 上的环境扫描隧道显微镜和原子力显微镜”《真空科学与技术杂志》B.（1994 年出版）。
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