X-ray reflectivity study of the surface of liquid gallium.
X-ray reflectivity study of the surface of liquid gallium.
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液态镓表面的X射线反射率研究。
DOI：
10.1103/physrevb.47.6847
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发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Ocko
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kawamoto;Lee;Pershan;Deutsch;Maskil;Ocko
采用一种新的曲面测量技术，在超高真空条件下测量了液态镓表面的X射线反射率。对于波矢量传输的理想尖锐平坦界面，测量的菲涅耳反射率与理论菲涅耳反射率之间的小偏差[约lt]0.5 A[sup [minus]1]意味着电子密度分布的界面宽度为[约lt]1.3[plus minus]0.2 A。这与原子紧密堆积的模型一致，该模型在长度尺度[gt]10埃处缺乏沿表面法线的沿着结构。
X-ray reflectivity from the surface of liquid gallium was measured under ultrahigh vacuum conditions using a novel technique for curved surfaces. The small deviations between the measured and theoretical Fresnel reflectivity for an ideally sharp flat interface for wave-vector transfer [approx lt]0.5 A[sup [minus]1] imply an interfacial width for the electron density profile of [approx lt]1.3[plus minus]0.2 A. This is consistent with a model of atomic close packing which lacks structure along the surface normal at length scales [gt]10 A.