K.Sasagawa: "Prediction of Electromigaration Failure in Passivated Polycrystalline Line"Journal of Applied Physics. (掲載予定). (2002)
K.Sasagawa: "Prediction of Electromigaration Failure in Passivated Polycrystalline Line"Journal of Applied Physics. (掲載予定). (2002)
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K.笹川：“钝化多晶硅线中电迁移失效的预测”应用物理学杂志（即将出版）。
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