Tests of the tomography system using a transimission electron microscope
Tests of the tomography system using a transimission electron microscope
复制标题
使用透射电子显微镜对断层扫描系统进行测试
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takuo Yasunaaga
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Seiya Tsurusaki;Takuo Yasunaaga
