Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems
Chapter 9 "Low-Power Testing for 2D/3D Devices and Systems" in Design of 3D Integrated Circuits and Systems
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3D集成电路和系统设计中的第9章“2D/3D器件和系统的低功耗测试”
DOI：
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
D. Xiang
中科院分区：
文献类型：
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作者：
X. Lin;X. Wen;D. Xiang
