M.Nagaki: "Characterization of SiGeC Thin Films by MeV Ion Scattering and X-ray Diffraction"Thin Solid Films. 369. 143-147 (2000)
M.Nagaki: "Characterization of SiGeC Thin Films by MeV Ion Scattering and X-ray Diffraction"Thin Solid Films. 369. 143-147 (2000)
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M.Nagaki：“通过 MeV 离子散射和 X 射线衍射表征 SiGeC 薄膜”固体薄膜。
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