A New STEM Observation Method of Ultra-Thin Sections Using a Desktop Low-Vacuum Scanning Electron Microscope and Its Application to Pathological Diagnosis
A New STEM Observation Method of Ultra-Thin Sections Using a Desktop Low-Vacuum Scanning Electron Microscope and Its Application to Pathological Diagnosis
复制标题
台式低真空扫描电镜超薄切片STEM观察新方法及其在病理诊断中的应用
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T. Takaki
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. Bold ;T. Nagumo;M. Sakaue;K. Honda ,T. Sonomura;T. Takaki
