I. SHIMIZU, F. KATO, K. IKEDA, T. ISAGO and Y. OHASHI: "Developmental research on a technique for simultaneously detecting defects of printed circuit externally by an optical analogue image processing"Proc. of Optics Japan 2001. 209-210 (2001)
I. SHIMIZU, F. KATO, K. IKEDA, T. ISAGO and Y. OHASHI: "Developmental research on a technique for simultaneously detecting defects of printed circuit externally by an optical analogue image processing"Proc. of Optics Japan 2001. 209-210 (2001)
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I. SHIMIZU、F. KATO、K. IKEDA、T. ISAGO 和 Y. OHASHI：“通过光学模拟图像处理从外部同时检测印刷电路缺陷的技术的开发研究”Proc。
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