S.Yamada and M.Tanaka: "Determination of the Displacement Vector at a Stacking Fault in TiO_2 by Convergent-Beam Electron Diffraction" Journal of Electron Microscopy. 44. 212-218 (1995)
S.Yamada and M.Tanaka: "Determination of the Displacement Vector at a Stacking Fault in TiO_2 by Convergent-Beam Electron Diffraction" Journal of Electron Microscopy. 44. 212-218 (1995)
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S.Yamada 和 M.Tanaka：“通过会聚束电子衍射测定 TiO_2 堆垛层错处的位移矢量”电子显微镜杂志。
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