Cross-sectional transmission electron microscopy analysis of nanogap electrode fabricated by atomic force microscope local oxidation
Cross-sectional transmission electron microscopy analysis of nanogap electrode fabricated by atomic force microscope local oxidation
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原子力显微镜局部氧化制备纳米间隙电极的截面透射电子显微镜分析
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and T. Machida
中科院分区：
文献类型：
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作者：
R. Moriya;E. Ikenaga;S. Masubuchi;and T. Machida
