Technological development for half-life measurement of ^<146>Sm nuclide
Technological development for half-life measurement of ^<146>Sm nuclide
复制标题
^<146>Sm核素半衰期测量技术进展
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et. al. (5th author in 25 authors)
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Kinoshita;et. al. (5th author in 25 authors)
