Interface reconstructed structure of Ag/Si( 1 1 1 ) revealed by X-ray diffraction
Interface reconstructed structure of Ag/Si( 1 1 1 ) revealed by X-ray diffraction
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X射线衍射揭示Ag/Si( 1 1 1 )界面重构结构
DOI：
10.1016/s0039-6028(01)01216-x
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发表时间：
2001
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
H. Kawata
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
S. Horii;K. Akimoto;S. Ito;T. Emoto;A. Ichimiya;H. Tajiri;W. Yashiro;S. Nakatani;Tadayuki Takahashi;H. Sugiyama;Xiaowei Zhang;H. Kawata
