上部臨界磁場測定によるMgB2薄膜の評価.
上部臨界磁場測定によるMgB2薄膜の評価.
复制标题
通过上临界磁场测量评估 MgB2 薄膜。
DOI：
--
复制
发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
石田 武和
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
野口 悟;栗林 昭博;原田 善之;大場 辰則;入宇田 啓樹;吉澤 正人;辰巳 正裕;三木 茂人;島 影尚;王 鎮;石田 武和
