Time-of-Flight Measurements of Ion and Electron from Xenon Clusters Irradiated with a Soft X-ray Laser Pulse
Time-of-Flight Measurements of Ion and Electron from Xenon Clusters Irradiated with a Soft X-ray Laser Pulse
复制标题
软 X 射线激光脉冲照射的氙簇中的离子和电子的飞行时间测量
DOI：
--
复制
发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
他
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
S. Namba;他
