Toyoko Arai: "Bias dependence of Si(111)7x7 images observed by noncontact atomic force microscopy"Applied Surface Science. 157. 207-211 (2000)
Toyoko Arai: "Bias dependence of Si(111)7x7 images observed by noncontact atomic force microscopy"Applied Surface Science. 157. 207-211 (2000)
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Toyoko Arai：“通过非接触原子力显微镜观察到的 Si(111)7x7 图像的偏差依赖性”应用表面科学。
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