Benchmarking of Thermal Boundary Resistance of GaN-SiC Interfaces for AlGaN/GaN HEMTs: US, European and Japanese Suppliers
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AlGaN/GaN HEMT 的 GaN-SiC 界面热边界电阻基准测试：美国、欧洲和日本供应商
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期刊：
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通讯作者：
Martin Kuball (Author)
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Martin Kuball (Author)
