Quantitative analysis of sub-grain boundaries in bulk multicrystalline silicon using spatially resolved x-ray diffraction
Quantitative analysis of sub-grain boundaries in bulk multicrystalline silicon using spatially resolved x-ray diffraction
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使用空间分辨 X 射线衍射对块状多晶硅中的亚晶界进行定量分析
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
沓掛 健太朗
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hasegawa H.;Jiang X.;Tada R.;長谷川 精;長谷川 精;長谷川 精;長谷川 精;沓掛 健太朗;Kentaro Kutsukake;Kentaro Kutsukake;沓掛 健太朗;沓掛 健太朗;沓掛 健太朗;沓掛 健太朗
