Intrinsic and Extrinsic Charge Neutrality Levels in Semiconductors - an Empirical-Approach

Intrinsic and Extrinsic Charge Neutrality Levels in Semiconductors - an Empirical-Approach
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半导体中的内在和外在电荷中性水平 - 一种经验方法

DOI:
10.1016/0038-1098(92)90410-b
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发表时间:
1992
影响因子:
2.1
通讯作者:
F. Flores
F. Flores
中科院分区:
物理与天体物理4区
文献类型:
--
作者:
F. Gozzo;C. Coluzza;G. Margaritondo;F. Flores

文献摘要

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