H.Takahashi, K.K.Saluja, Y.Takamatsu: "An Alternative Test Generation for Path Delay Faults by Using Ni-Detection Test Sets"IEICE Trans.on Information and Systems. E86-D・12. 2650-2658 (2003)
H.Takahashi, K.K.Saluja, Y.Takamatsu: "An Alternative Test Generation for Path Delay Faults by Using Ni-Detection Test Sets"IEICE Trans.on Information and Systems. E86-D・12. 2650-2658 (2003)
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H.Takahashi、K.K.Saluja、Y.Takamatsu：“使用 Ni 检测测试装置生成路径延迟故障的替代测试”IEICE Trans.on 信息和系统 (2003)。
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