最新のナノ組織解析技術による脆化機構の解明 -陽電子消滅法と3次元アトムプローブによる監視試験片の解析-(解説)
最新のナノ組織解析技術による脆化機構の解明 -陽電子消滅法と3次元アトムプローブによる監視試験片の解析-(解説)
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利用最新纳米结构分析技术阐明脆化机理 -利用正电子湮没法和三维原子探针对监测样品进行分析-（解说）
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
長谷川雅幸
中科院分区：
文献类型：
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作者：
永井康介;外山健;長谷川雅幸
