Investigation of intermediate layers in oxides/GaN(0001) by electron microscopy
Investigation of intermediate layers in oxides/GaN(0001) by electron microscopy
复制标题
通过电子显微镜研究氧化物/GaN(0001)中的中间层
DOI：
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发表时间：
2018
影响因子：
1.5
通讯作者：
Koji Kimoto and Yasuo Koide
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yoshihiro Irokawa;Kazutaka Mitsuishi;Toshihide Nabatame;Koji Kimoto and Yasuo Koide
