Off-Stress-Induced Current Collapse in Multi-Mesa-Channel AlGaN/GaN HEMT
Off-Stress-Induced Current Collapse in Multi-Mesa-Channel AlGaN/GaN HEMT
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多台面沟道 AlGaN/GaN HEMT 中的脱应力引起的电流崩塌
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Kota Ohi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Kota Ohi;Tamotsu Hashizume;河野泰宏;大井幸多;河野泰宏;大井幸多;河野泰宏;Kota Ohi;河野泰宏;Kota Ohi;Yasuhiro Kohno;大井幸多;Yasuhiro Kohno;Kota Ohi
