Cross-sectional transmission electron microscope observation of Si clathrate thin films grown on Si(111) substrates
Cross-sectional transmission electron microscope observation of Si clathrate thin films grown on Si(111) substrates
复制标题
Si(111)衬底上生长的Si笼形薄膜的截面透射电子显微镜观察
DOI：
10.1016/j.tsf.2016.11.019
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
2.1
通讯作者：
Tetsuo Ikari
中科院分区：
文献类型：
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作者：
3.Kentaro Sakai;Hirotaka Takeshita;Tomohiro Haraguchi;Hidetoshi Suzuki;Fumitaka Ohashi;Tetsuji Kume;Atsuhiko Fukuyama;Shuichi Nonomura;Tetsuo Ikari
