X-ray emission spectra of "buried" Fe/Si interfaces using standing wave method with in-situ phase determination technique
X-ray emission spectra of "buried" Fe/Si interfaces using standing wave method with in-situ phase determination technique
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使用驻波法和原位相测定技术的“埋藏”Fe/Si 界面的 X 射线发射光谱
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M.Yanagihara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
T.Ejima;T.Goto;T.Jinno;K.Kuramitsu;M.Yanagihara
