Determination of Schottky barrier profile at Pt/SrTiO3:Nb junction by x-ray photoemission
Determination of Schottky barrier profile at Pt/SrTiO3:Nb junction by x-ray photoemission
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通过 X 射线光电发射测定 Pt/SrTiO3:Nb 结处的肖特基势垒剖面
DOI：
10.1063/1.4772628
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K. Kobayashi and H. Haneda
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Ohashi;H. Yoshikawa;Y. Yamashita;S. Ueda;J. Li;H. Okushi;K. Kobayashi and H. Haneda
