S.Takakusagi, M.Kato, Y.Sakai, K.Fukui, K.Asakura and Y.Iwasawa: "Development of an XPEEM system with multi-probes and its application to surface imaging at static and dynamic states."J.Microscopy. 200. 240-250 (2000)
S.Takakusagi, M.Kato, Y.Sakai, K.Fukui, K.Asakura and Y.Iwasawa: "Development of an XPEEM system with multi-probes and its application to surface imaging at static and dynamic states."J.Microscopy. 200. 240-250 (2000)
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S.Takakusagi、M.Kato、Y.Sakai、K.Fukui、K.Asakura 和 Y.Iwasawa：“多探头 XPEEM 系统的开发及其在静态和动态表面成像中的应用。”J.Microscopy
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