Local crystal structure analysis with several picometer precision using scanning transmission electron microscope

Local crystal structure analysis with several picometer precision using scanning transmission electron microscope
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使用扫描透射电子显微镜进行几皮米精度的局部晶体结构分析

DOI：
--
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发表时间：
2010
期刊：
Ultramicroscopy
影响因子：
2.2
通讯作者：
K.Ishizuka
K.Ishizuka
中科院分区：
工程技术3区
文献类型：
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作者：
K.Kimoto;T.Asaka;X.Yu;T.Nagai;Y.Matsui;K.Ishizuka

文献摘要

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