SOI 技術を用いた新型 X 線撮像分光器の開発 39: 新規構造を導入した X 線 SOI ピクセル検出器の放射線耐性の評価
SOI 技術を用いた新型 X 線撮像分光器の開発 39: 新規構造を導入した X 線 SOI ピクセル検出器の放射線耐性の評価
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采用SOI技术开发新型X射线成像光谱仪39：新型结构X射线SOI像素探测器的耐辐射性能评估
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
林田光揮，幸村孝由，萩野浩一，大野顕司，根岸康介，鑓田敬吾，北島正隼，鶴剛，田中孝明，内田裕之，佳山一帆，天野雄輝，児玉涼太，森浩二，武田彩希，西岡祐介，日田貴熙，行元雅貴，新井康夫，倉知郁生，濱野毅，北村尚，川人祥二，安富啓太，亀濱博紀
中科院分区：
文献类型：
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作者：
児玉涼太，鶴剛，田中孝明，内田裕之，佳山一帆，天野雄輝，武田彩希，森浩二，西岡祐介;日田貴熙，行元雅貴，川人祥二，安富啓太，亀濱博紀，新井康夫，倉知郁生，幸村孝由，萩野浩一，林田光揮，北島正隼;林田光揮，幸村孝由，萩野浩一，大野顕司，根岸康介，鑓田敬吾，北島正隼，鶴剛，田中孝明，内田裕之，佳山一帆，天野雄輝，児玉涼太，森浩二，武田彩希，西岡祐介，日田貴熙，行元雅貴，新井康夫，倉知郁生，濱野毅，北村尚，川人祥二，安富啓太，亀濱博紀
