X線減弱係数スペクトル測定による実効原子番号・電子密度の測定
X線減弱係数スペクトル測定による実効原子番号・電子密度の測定
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通过X射线衰减系数谱测量测量有效原子序数和电子密度
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
長谷部 有希、森本 一成、星 和志、鈴木 宏輔、大野 由美子、取越 正己、櫻井 浩
中科院分区：
文献类型：
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作者：
白戸 陽大、石崎 賢弥;長谷部 有希、森本 一成、星 和志、鈴木 宏輔、大野 由美子、取越 正己、櫻井 浩
