Spatially resolved X-ray rocking curve analysis as a tool to invesitagte local structures in Si multicrystals
Spatially resolved X-ray rocking curve analysis as a tool to invesitagte local structures in Si multicrystals
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空间分辨 X 射线摇摆曲线分析作为研究硅多晶局部结构的工具
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and K. Nakajima
中科院分区：
文献类型：
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作者：
N. Usami;K. Kutsukake;K. Fujiwara;and K. Nakajima
