Lihong Tong, Kazuki Suzuki, Hideo Ito: "Optimal Seed Generation for Delay Fault Detection"IEEE Eleventh Asian Test Symposium (ATS'02), (Guam). 116-121 (2002)
Lihong Tong, Kazuki Suzuki, Hideo Ito: "Optimal Seed Generation for Delay Fault Detection"IEEE Eleventh Asian Test Symposium (ATS'02), (Guam). 116-121 (2002)
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Lihong Tong、Kazuki Suzuki、Hideo Ito：“延迟故障检测的最优种子生成”IEEE 第十一届亚洲测试研讨会 (ATS02)，（关岛）。
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