Neue Verfahren zur röntgenographischen Untersuchung von Mikrobereichen der Oberfläche kompakter kristalliner Proben

Neue Verfahren zur röntgenographischen Untersuchung von Mikrobereichen der Oberfläche kompakter kristalliner Proben
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最新的晶体学研究

DOI:
10.1007/bf01196754
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发表时间:
1982
期刊:
影响因子:
5.7
通讯作者:
K. Richter
K. Richter
中科院分区:
化学2区
文献类型:
--
作者:
H. Ullrich;W. Schatt;W. Greiner;K. Richter

文献摘要

被引文献

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ZusammenfassungZur Bestimmung der kristallographischen Orientierung, der Gitterparameter and der kriststruktur von Mikrobereichen der Werkstoffoberfläche stehen eine Reihe von röntgenographischen and elek-tronographischen Verfahren zur verf<s:1> gung。Eine gegen<s:1> berstellung ihrer Leistungsfähigkeit zeigt, daß sie hinsichtlich ihrer Einsatzmöglichkeiten größeren Einschränkungen unterworfen sind。研究进展与进展röntgenographische mikrobeugungsverfaren entwikkelt, von denenzwei vorgestellt wurden。Zur Untersuchung ausgewählter晶体在kompakten probist das drehschwenkverfaren geeiget, bei dem durch平行单色化Röntgenstrahlung die schnittlinen der zu den nethschenscharen gehörenden Beugungskegel auf einem Film kontrastreich abgebildet werden。模具几何学研究:Beispiel von Si和α-Fe的Gitterparameter: erklärt和Die Beispiel von Si和α-Fe。Zur Untersuchung von Mikrobereichen多晶材料Werkstoffe wrd in Röntgenmikrodiffraktometer mit ringförmigem Proportionalzählrohr verwendet, das die in einem Debye-Scherrer-Ring enthaltene Intensität最终注册。在此基础上,建立了一种新的定量许可机制。为了测定材料表面微区域的晶体取向、晶格参数和晶体结构,可采用一系列射线照相和电子照相技术。对其有效性的比较表明,它们在应用的可能性方面受到很大的限制。为此,射线照相微衍射技术得到了发展,其中介绍了两种技术。对于致密样品中特定晶体的研究,旋转旋转技术是合适的。在这种技术中,属于网络平面系统的衍射锥的相交线可以在薄膜上以高对比度表示。解释了这些衍射图的几何形状,并以硅酮和α -铁为例说明了晶体取向和晶格参数的确定。为了研究多晶材料的微区,采用环形比例计数管x射线微衍射仪,一次记录一个德拜-谢勒环的强度。通过这种布置,定性地确定了裂纹尖端和裂纹边缘的机械张力过程。
ZusammenfassungZur Bestimmung der kristallographischen Orientierung, der Gitterparameter und der Kristallstruktur von Mikrobereichen der Werkstoffoberfläche stehen eine Reihe von röntgenographischen und elek-tronographischen Verfahren zur Verfügung. Eine Gegenüberstellung ihrer Leistungsfähigkeit zeigt, daß sie hinsichtlich ihrer Einsatzmöglichkeiten größeren Einschränkungen unterworfen sind. Deshalb wurden neue röntgenographische Mikrobeugungsverfahren entwikkelt, von denen zwei vorgestellt wurden.Zur Untersuchung ausgewählter Kristallite in kompakten Proben ist das Drehschwenkverfahren geeignet, bei dem durch parallele monochromatische Röntgenstrahlung die Schnittlinien der zu den Netzebenenscharen gehörenden Beugungskegel auf einem Film kontrastreich abgebildet werden. Die Geometrie dieser Beugungsfiguren wurde erklärt und die Bestimmung der kristallographischen Orientierung und der Gitterparameter am Beispiel von Si und α-Fe erläutert.Zur Untersuchung von Mikrobereichen polykristalliner Werkstoffe wird ein Röntgenmikrodiffraktometer mit ringförmigem Proportionalzählrohr verwendet, das die in einem Debye-Scherrer-Ring enthaltene Intensität auf einmal registriert. Mit dieser Anordnung wurde der Verlauf der mechanischen Spannung vor einer Rißspitze und an den Rißufern quantitativ ermittelt.SummaryFor determination of the crystallographic orientation, of the lattice parameters and of the crystal structure of micro areas of the material surface, a series of radiographic and electronographic techniques are available. Comparison of their effectiveness shows that they are subject to great limitations with regard to their possibilities of application. For this reason, radiographic microdiffraction techniques were developed, of which two were presented. For investigation of selected crystallites in compact samples, the rotatory swivel technique is suitable. In this technique, the intersection lines of the diffraction cones belonging to the network plane systems can be represented with high contrast on a film. The geometry of these diffraction figures was explained and the determination of the crystallographic orientation and of the lattice parameters illustrated by the example of silicone and alpha-iron. For investigation of micro areas of polycrystalline materials, an X-ray microdiffractometer with annular proportional counting tube was used which registers in one go the intensity contained in one Debye-Scherrer ring. With this arrangement, the course of the mechanical tension in front of a cracked tip and the edge of the crack was determined qualitatively.