A DFT method based on partially strong testability of RTL data paths to guarantee complete fault efficiency
A DFT method based on partially strong testability of RTL data paths to guarantee complete fault efficiency
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基于RTL数据路径部分强可测试性保证完全故障效率的DFT方法
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hideo Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hiroyuki Iwata;Tomokazu Yoneda;Satoshi Ohtake;Hideo Fujiwara
