森 俊章, 西田 貴司, 岡村 総一郎, 塩嵜 忠: "TSC法による強誘電体薄膜の電気的特性劣化機構の評価"第48回応用物理学会関係連合講演会講演予稿集. No.2. 559-559 (2001)
森 俊章, 西田 貴司, 岡村 総一郎, 塩嵜 忠: "TSC法による強誘電体薄膜の電気的特性劣化機構の評価"第48回応用物理学会関係連合講演会講演予稿集. No.2. 559-559 (2001)
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Toshiaki Mori、Takashi Nishida、Soichiro Okamura、Tadashi Shiozaki：“使用 TSC 方法评估铁电薄膜的电性能劣化机制”第 48 届日本应用物理学会会议记录第 2. 559-559 号（2001 年）。 ）
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