Effect of tip polarity on Kelvin probe force microscopy images of thin insulator CaF2 films on Si(111)
Effect of tip polarity on Kelvin probe force microscopy images of thin insulator CaF2 films on Si(111)
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尖端极性对 Si(111) 上绝缘体 CaF2 薄膜开尔文探针力显微镜图像的影响
DOI：
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发表时间：
2012
影响因子：
4
通讯作者：
and S. Morita
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A. Yurtsever;Y. Sugimoto;M. Fukumoto;M. Abe;and S. Morita
影响因子：
3.7
作者：
Bocquet, Franck;Nony, Laurent;Loppacher, Christian
通讯作者：
Loppacher, Christian