Takeo Ushiki: "Effect of Starting SOI Material Quality on Low-Frequency Noise Characteristics in Partially Depleted Floating-Body SOI MOSFETs"IEEE Electron Device Letters. 21・12. 610-612 (2000)
Takeo Ushiki: "Effect of Starting SOI Material Quality on Low-Frequency Noise Characteristics in Partially Depleted Floating-Body SOI MOSFETs"IEEE Electron Device Letters. 21・12. 610-612 (2000)
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Takeo Ushiki：“启动 SOI 材料质量对部分耗尽浮体 SOI MOSFET 低频噪声特性的影响”IEEE 电子器件快报 21・12 (2000)。
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