畳み込み和ならびにビット並列を用いた縦読みパターン照合
畳み込み和ならびにビット並列を用いた縦読みパターン照合
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使用卷积和和位并行的垂直模式匹配
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
竹田 正幸
中科院分区：
文献类型：
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作者：
舩越 満;中島 祐人;稲永 俊介;坂内 英夫;竹田 正幸
