光共振損失を用いたSPMプローブチップ評価に関する研究
光共振損失を用いたSPMプローブチップ評価に関する研究
复制标题
利用光学共振损耗评估SPM探针尖端的研究
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
津田信道，儲 博懐，増井周造，道畑正岐，高増 潔，高橋 哲
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Bohuai Chu;Masaki Michihata;Kiyoshi Takamasu;Satoru Takahashi;津田信道，儲 博懐，増井周造，道畑正岐，高増 潔，高橋 哲
