Masahiro Jono, Atsushi Sugeta and Yoshihiko Uematsu: "Microscopic Observation around Fatigue Crack Tip by AFM and Image Processing Analysis"JSME Kansai 75ィイD1thィエD1 Annual Meeting. 1〜15-1〜16 (2000)
Masahiro Jono, Atsushi Sugeta and Yoshihiko Uematsu: "Microscopic Observation around Fatigue Crack Tip by AFM and Image Processing Analysis"JSME Kansai 75ィイD1thィエD1 Annual Meeting. 1〜15-1〜16 (2000)
复制标题
Masahiro Jono、Atsushi Sugeta 和 Yoshihiko Uematsu：“通过 AFM 和图像处理分析对疲劳裂纹尖端进行微观观察”JSME Kansai 75-1-16 (2000)
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
