膜平行電圧測定系の長寿命化とイオンチャネル機能評価への応用
膜平行電圧測定系の長寿命化とイオンチャネル機能評価への応用
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膜平行电压测量系统的长寿命及其在离子通道功能评估中的应用
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
平野愛弓
中科院分区：
文献类型：
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作者：
野村駿介;渡辺恭也;佐藤まどか;小宮麻希;馬騰;但木大介;平野愛弓
