Valence band offset of ZnO/GaAs heterojunction measured by x-ray photoelectron spectroscopy

Valence band offset of ZnO/GaAs heterojunction measured by x-ray photoelectron spectroscopy
复制标题

X 射线光电子能谱测量 ZnO/GaAs 异质结的价带偏移

DOI:
--
复制
发表时间:
--
影响因子:
4
通讯作者:
Zhu, Q. S.
Zhu, Q. S.
中科院分区:
物理与天体物理2区
文献类型:
--
作者:
Liu, X. L.;Yang, A. L.;Wei, H. Y.;Yang, S. Y.;Jin, P.;Wang, Z. G.;Zhang, P. F.;Fan, H. B.;Zhang, R. Q.;Zhu, Q. S.

文献摘要

相似文献