D.Ito, N.Fujimura, T.Ito: "The effect of leakage current on the retention property of YMnO3 Based MFIS capacitor"Integrated Ferroelectrics. 49. 41-49 (2002)
D.Ito, N.Fujimura, T.Ito: "The effect of leakage current on the retention property of YMnO3 Based MFIS capacitor"Integrated Ferroelectrics. 49. 41-49 (2002)
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D.Ito、N.Fujimura、T.Ito：“漏电流对 YMnO3 基 MFIS 电容器保持性能的影响”集成铁电体。
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