Life time test by 750 keV negative hydrogen beams
Life time test by 750 keV negative hydrogen beams
复制标题
750 keV负氢束寿命测试
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A.Satoh
中科院分区：
文献类型：
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作者：
A.Takagi;I.Sugai;Y.Irie;Y.Takeda;K.Ikegami;Z.Igarashi;C.Kubota;Y.Arakida;N.Saito;S.Dairaku;K.Senzaki;A.Satoh
