K.Sasagawa(K.Naito,M.Hasegawa,M.Saka and H.Abe): "Prediction of Bamboo Line Failure by Using a Governing Parameter of Electromigration Damage"Proc.of Int.Workshop on Sensing and Evaluation of Materials System. 25-32 (2000)
K.Sasagawa(K.Naito,M.Hasegawa,M.Saka and H.Abe): "Prediction of Bamboo Line Failure by Using a Governing Parameter of Electromigration Damage"Proc.of Int.Workshop on Sensing and Evaluation of Materials System. 25-32 (2000)
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K.笹川（K.Naito、M.Hasekawa、M.Saka 和 H.Abe）：“利用电迁移损伤控制参数预测竹线故障”Proc.of Int.Workshop 材料系统传感与评估。
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