Rapid MOSFET Contact Resistance Extraction From Circuit Using SPICE-Augmented Machine Learning Without Feature Extraction
Rapid MOSFET Contact Resistance Extraction From Circuit Using SPICE-Augmented Machine Learning Without Feature Extraction
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使用 SPICE 增强机器学习从电路中快速提取 MOSFET 接触电阻，无需特征提取
DOI：
10.1109/ted.2021.3123092
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发表时间：
2021
影响因子：
3.1
通讯作者：
Wong, Hiu Yung
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Lu, Thomas;Kanchi, Varada;Mehta, Kashyap;Oza, Sagar;Ho, Tin;Wong, Hiu Yung
